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勢壘電容是什么,勢壘電容和擴散電容-KIA MOS管

信息來源:本站 日期:2025-07-18 

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勢壘電容是什么,勢壘電容和擴散電容-KIA MOS管


勢壘電容是什么?

在半導體器件中,PN結有一個耗盡層,當施加反向電壓時,耗盡層會變寬,阻止電流流動。這時候可能形成一個電容,因為耗盡層兩側存儲了電荷,但無法導電,類似于電容的結構。

勢壘電容指在半導體器件中,由于空間電荷區(即耗盡層)的存在而形成的電容。當外加電壓變化時,耗盡層的寬度和電荷量會變化,導致電容的變化。這種情況下,勢壘電容與耗盡層的寬度有關,而耗盡層寬度又取決于外加電壓。所以勢壘電容應該是一個可變電容,其容值隨反向電壓的變化而變化。

勢壘電容,擴散電容

勢壘電容,擴散電容

勢壘電容和擴散電容

勢壘電容和擴散電容是PN結的兩種電容效應,其區別在于物理機制和作用區域:

1. 勢壘電容(耗盡層電容):

形成機制:外加電壓變化時,勢壘區空間電荷層寬度改變,導致載流子的"存入/取出"效應

主導區域:空間電荷區(耗盡層)

電壓關系:反向偏置時起主要作用,與反向電壓的平方根成反比


2. 擴散電容:

形成機制:外加電壓變化引起擴散區非平衡載流子濃度梯度改變,導致載流子的"堆積/消散"效應

主導區域:中性區(P區和N區的擴散區)

電壓關系:正向偏置時顯著,與正向電流呈指數關系

兩者同時存在于PN結中,但在不同偏置條件下起主導作用:反向偏置時以勢壘電容為主,正向偏置時擴散電容占優。這種雙電容特性是半導體器件高頻特性分析的重要理論基礎。


勢壘電容和擴散電容的區別

勢壘電容,擴散電容

1、擴散電容是正偏壓時少子的電容效應引起的,勢壘電容是反偏壓時空間電荷的電容效應引起的。

2、勢壘電容是p-n結所具有的一種電容,即是p-n結空間電荷區(勢壘區)的電容;由于勢壘區中存在較強的電場,其中的載流子基本上都被驅趕出去了--耗盡,則勢壘區可近似為耗盡層,故勢壘電容往往也稱為耗盡層電容。

3、勢壘電容是相應于多數載流子電荷變化的一種電容效應,因此勢壘電容不管是在低頻、還是高頻下都將起到很大的作用(與此相反,擴散電容是相應于少數載流子電荷變化的一種電容效應,故在高頻下不起作用)。實際上,半導體器件的最高工作頻率往往就決定于勢壘電容。

擴散電容,是二極管結電容的組成部分之一,在交流信號作用下才會表現出來,它是p-n結在正偏時所表現出的一種微分電容效應。擴散電容就是由多子擴散后,在pn結得另一側面積累而形成得。pn結正偏時,由n區擴散到p區得電子,與外電源提供得空穴相復合,形成正向電流。


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